| 000 | 00919nam a2200265 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 003 | MX-TeUDD | ||
| 005 | 20220429102857.0 | ||
| 008 | 090325b1970 nyu||||g |||| 00| 0 eng c | ||
| 040 |
_aMX-TeUDD _bspa _cMX-TeUDD |
||
| 050 | 0 | 4 |
_aQC612.S4 _bK3 1970 |
| 100 | 1 |
_aKane, Philip F. _941744 |
|
| 245 | 1 | 0 |
_aCharacterization of semiconductor materials / _cPhilip F. Kane, Graydon B. Larrabee. |
| 260 |
_aNew York : _bMcGraw-Hill, _c1970 |
||
| 300 |
_a351 p. : _bill. ; _c26 cm. |
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| 490 | 0 | _aTexas Instruments Electronics. | |
| 500 | _aEl ejemplar número 1 se encuentra en el Fondo : José Eduardo Romero Ramírez. | ||
| 504 | _aIncluye referencias bibliográficas. | ||
| 650 | 4 |
_aSemiconductores _94052 |
|
| 650 | 4 |
_aCorrientes eléctricas _941745 |
|
| 650 | 4 |
_aEnergía eléctrica _912250 |
|
| 700 | 1 |
_aLarrabee, Graydon B., _ecouat. _941746 |
|
| 905 | _aAcervo | ||
| 906 |
_aCarlos _b20092503 |
||
| 942 |
_cBK01 _2lcc |
||
| 999 |
_c282882 _d282882 |
||