Characterization of semiconductor materials / Philip F. Kane, Graydon B. Larrabee.
Tipo de material:
TextoSeries Texas Instruments ElectronicsDetalles de publicación: New York : McGraw-Hill, 1970Descripción: 351 p. : ill. ; 26 cmTema(s): Clasificación LoC:- QC612.S4 K3 1970
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Signatura topográfica | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | |
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04-No Sale (Libros de Consulta)
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Biblioteca Magna | Fondo Jose Eduardo Romero Ramírez | QC612.S4 K3 1970 | No sale a préstamo | 136942 |
El ejemplar número 1 se encuentra en el Fondo : José Eduardo Romero Ramírez.
Incluye referencias bibliográficas.